整合 TITAN? 探針技術與晶圓級測量專長，開啟新一代半導體與次太赫茲應用精密測試新篇章

新竹2025年9月15日 /美通社/ -- 全球領先的先進半導體測試解決方案廠商旺矽科技股份有限公司(MPI Corporation，以下簡稱“旺矽科技”)宣布，正式推出可支持是德科技(Keysight Technologies，以下簡稱“是德科技”)全新 NA5305A/7A PNA-X 頻率擴頻器的全集成 250 GHz 寬帶測試解決方案。該方案結合旺矽在次太赫茲探測技術與晶圓級測量領域的深厚經驗，搭配 TITAN? 射頻探針及探針臺平臺，提供業界領先的高達 250 GHz 寬帶 S 參數測試能力。

這一最新里程碑凝聚了旺矽科技在高頻測試領域的深厚技術積累，包括早期突破 200 GHz 寬帶探針測試極限的解決方案。同時，這也彰顯了與是德科技的深度合作，通過將業界領先的測試儀器與旺矽先進的晶圓級測試方案相結合，以滿足快速增長的次太赫茲測試需求。

旺矽科技先進半導體測試(AST)事業部總經理 Stojan Kanev 表示：

“旺矽是首家實現高達 250 GHz 實時單次掃描校準，并支持單端/差分晶圓級測試的企業。這一成就建立在我們在 200 GHz 以上寬帶晶圓特性表征領域多年驗證的解決方案與卓越業績之上。全新的 250 GHz 解決方案結合 TITAN? 探針技術與系統集成優勢，能夠提供穩定可重復的測試結果、清晰的探針尖端可見性，以及確保安全簡便操作的保護設計，幫助工程師節省時間、保護系統并實現最佳性能。”

專為次太赫茲精度打造

該250 GHz解決方案包括旺矽科技TITAN?單端式T250MAK與差分式T250MSK探針，采用全新 0.5 毫米寬帶同軸接口，分別針對寬帶器件表征與高速差分測試而設計。探針具備以下特點：

• 在全頻段范圍內實現超低插入損耗與優異回波損耗
• 獨特的針尖可視設計與卓越機械穩定性，確保精準對位、接觸可靠與數據一致
• 伸縮式探針尖端保護裝置設計，保障操作安全
• 提供單端(GSG)與差分(GSGSG)配置，優化適配不同器件需求

TITAN? T250系列探針可與旺矽科技全系列探針臺平臺完美集成，支持溫控晶圓級測量，最大程度減少人工操作，確保系統的最佳重復性。

是德科技觀點

是德科技產品經理 David Tanaka 表示：“旺矽科技在高頻晶圓探針技術的持續創新，對擴展我們寬帶矢量網絡分析儀平臺的測試能力至關重要。他們的 TITAN? 探針提供了實現我們 250 GHz 解決方案所需的精度、重復性和系統級集成能力。本次合作將有助于我們因應日益增長的次太赫茲先進測試需求。”

滿足半導體創新者不斷演進的技術需求

隨著人工智能、5G/6G 及高速光通信推動半導體性能不斷提升，測試測量工具必須同步演進。旺矽科技 250 GHz 寬帶測試系統應運而生，具備以下優勢：

• 支持最高達250 GHz的全校準單掃描寬頻S參數測量
• 支持調制寬頻及非線性測量能力
• 可與主流測試儀器無縫集成，構建完整測試鏈

旺矽科技最新解決方案已在多家核心客戶與合作伙伴的評估環境中部署，并在臺灣地區與美國設有演示系統。該解決方案計劃于 2025 年在荷蘭烏得勒支舉辦的歐洲微波周(EuMW)上全球首發并進行現場演示。

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